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SEMINÁRIO
09.06. - 12.06.08
"Tecnologia de medição de partículas - teoria e prática"

Das Praxisseminar vermittelt einen umfassenden Überblick über die Möglichkeiten und Methoden der Partikelmesstechnik.


 


Themenüberblick:


 


Partikelgrößenanalyse von Nanometer bis Mikrometer mittels Streulichtmethoden


1. Die Bedeutung der Probenvorbereitung


2. Laserbeugung und dynamische Lichtstreuung


3. Trennverfahren und Lichtstreuung zur hochauflösenden Nanopartikelanalyse


 


Korngrößen- und Kornformanalyse an Pulvern & Granulaten


1. Siebanalysen im Rahmen der QS nach DIN ISO 9000 ff


2. Dynamische Bildanalyse gemäß ISO 13322-2 und der CAMSIZER


 


Die Teilnahmegebühr beträgt 100,- Euro, die Teilnehmerzahl ist begrenzt.


 


TERMINE:

Montag, 09. Juni 2008
Hannover

Dienstag, 10. Juni 2008
Haan (bei Düsseldorf)

Mittwoch, 11. Juni 2008
Mannheim


 


Donnerstag, 12. Juni 2008
München (Ismaning)


 


Hier geht's zur Online-Anmeldung.


 


Hier finden Sie das detaillierte Programm als pdf zum Download.

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